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一种测量太赫兹垂直透射谱和反射谱的一体化系统及应用

发布者：

系统发布

联系方式：

平台代办

申请（专利权）人：

东莞理工学院

发明（设计）人：

价格类型：

一口价

价格：

专利号：

CN201510341298.7

分类名称：

专利类型：

发明

专利状态：

已下证

授权日期：

2017-12-01

合作方式：

开放性许可

摘要：

本发明提供了一种测量太赫兹垂直透射谱和反射谱的一体化系统及应用,该系统将激光经1/2波片后进入分束器,分束器将激光分为泵浦光和探测光;泵浦光经斩波器后再分别经过第一反射镜、由第二反射镜、第三反射镜构成的光学延迟线、第四反射镜、第五反射镜折射后,经第一透镜、太赫兹源产生太赫兹脉冲,太赫兹脉冲射入薄膜镜;探测光经第六反射镜折射后,经过起偏器等后射入平衡探测器,平衡探测器与锁相放大器功能性电连接;所述照射目标包括第七反射镜、待测样品。该系统应用到太赫兹时域光谱仪中,可以提高材料光学参数的提取精度,而应用到太赫兹飞行时间断层扫描中,可以加大三维立体图像最大访问深度。

附图：